CT-6高低溫探針臺

 

**可用于12英寸以內樣品測試

采用密閉腔結構，屏蔽外部電信干擾同時保持氮氣正壓環境下樣品在低溫時無結霜

 CINDBEST CT-6 | 6"~12" 高低溫探針臺測試系統

 特點/應用

 ◆ **可用于12英寸以內樣品測試

◆ 采用密閉腔結構，屏蔽外部電信干擾同時保持氮氣正壓環境下樣品在低溫時無結霜

◆ 優化的腔體保溫結構可以極大的減少液氮消耗量

◆ 可升降調節適合加裝探針卡

◆ 可搭配多種類型顯微鏡

◆ 結構模塊化設計，可無縫升級

◆ 探針臺可根據客戶要求定制。

 高低溫探針臺

 ◆ 臺體規格：

 型號：CT-6/CT-8/CT-12

 

樣品臺尺寸：6英寸/8英寸/12英寸

 

水平旋轉：可360度旋轉，可微調15度，精度0.1度，帶角度鎖死裝置

 

X-Y移動行程：6英寸*6英寸/8英寸*8英寸/12英寸*12英寸

 

X-Y移動精度：10微米/1微米

 

樣品固定：真空吸附，中心吸附孔，多圈吸附環

 

針座平臺：U型針座平臺，**多可放置6~12個探針座

 

平臺升降：可快速升降10mm/可微調升降10mm

 

背電極測試：樣品臺電學獨立懸空，4mm插孔可接背電極

 

溫度范圍：負80°到正400°

 

溫控精度：0.01°/0.1°/1°

 

重量：約120千克/150千克

 

◆ 光學系統：

 

顯微鏡類型：單筒顯微鏡/體式顯微鏡/金相顯微鏡

 

放大倍率：16X-200X/20X-4000X

 

移動行程：水平方向繞立柱旋轉/XY軸移動4英寸，Z軸行程50.8mm

 

光源：外置LED環形光源/同軸光源

 

CCD：200萬像素/500萬像素/1200萬像素

 

◆ 定位器：

 

X-Y-Z移動行程：12mm*12mm*12mm

 

移動精度：10微米/2微米/0.7微米/0.5微米

 

吸附方式：磁力吸附/真空吸附

 

線纜：同軸線/三軸線

 

漏電精度：10pA/100fA/10fA

 

固定探針：彈簧固定/管狀固定

 

接頭類型：BNC/三軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子

 

針尖直徑：0.2微米/1微米/2微米/5微米/10微米/20微米

 

針尖材質：鎢鋼/鈹銅

 

◆ 可選附件

 

加熱臺、顯示器、轉接頭、射頻測試配件、屏蔽箱、光學平臺、鍍金卡盤、光電測試配件、高壓測試配件、顯微鏡快速傾仰裝置、激光系統、探針卡夾具。